关于短路热稳定校验
根据低规6.2.3条要求，当短路持续时间小于等于5s时，绝缘导体的截面积应符合本规范公式（3.2.14）的要求。短路持续时间大于等于5s时此公式是否有效呢？ 6.2.3条第2款有提到：大于5s时，校验绝缘导体截面积应计入散热的影响。按照3.2.14公式计算（相当于没有考虑散热影响）结果肯定有效，只是会偏于保守。
无效。。。。 看任老的低压配电解惑，用断路器长延时脱扣器做短路保护校验热稳定感觉怪怪的，此时断路器的允通曲线还有意义吗？ hbsjzsjy 发表于 2024-12-17 16:39
看任老的低压配电解惑，用断路器长延时脱扣器做短路保护校验热稳定感觉怪怪的，此时断路器的允通曲线还有意 ...
1、现在随着断路器产品丰富程度和性能水平的提升，需要用断路器长延时脱扣器做短路保护校验热稳定的情况的确很少，不过有人觉得不失为一种解决办法，论坛里时不时有人探讨这个话题。
2、断路器的允通曲线个人感觉对于“用断路器长延时脱扣器做短路保护校验热稳定”还是有用，这个是保证断路器在这种情况下不会热损坏。 hbsjzsjy 发表于 2024-12-17 16:39
看任老的低压配电解惑，用断路器长延时脱扣器做短路保护校验热稳定感觉怪怪的，此时断路器的允通曲线还有意 ...
消化一些新概念或技术，需要时间，需要不断修正理解和运用上的偏差。
记得十来年前，有位弄清楚了焦耳积分特性I2t的坛友，来分享他的理解。其中有一问题，为什么保护器件I2t又叫允通能量，大家都很感兴趣。坛友也大卖关子，非要跟帖XXX条，才愿给出答案。要是现在，这种问题都是小儿科了{:1_491:} 校验实际上涉及两个I2t，一个是保护电器的开断I2t，另一个是被保护元件的热承受I2t 。
线缆的热承受I2t，就我看到的资料，最大只做到5s。
低断和熔断器短路保护的I2t，基本以毫秒计吧。
若要用长延时脱扣器特性（电子式的有的也是按I2t为常数设计的）做短路保护，可以校验热稳定的前提是：1、热驱动的长延时脱扣器，考虑散热的脱扣器热特性与考虑散热的线缆热特性完全一致，这在实际工程中显然是不可能的；2、按I2t为常数设计的电子式长延时脱扣器，会严重偏于保守；
对于其他特性设计的电子式长延时脱扣器，无法判断。 焦耳积分I2t特性，本来就是以绝热假设为前提提出的一个概念。时间长了，散热条件影响因子大增，不管用了。 dqaq 发表于 2024-12-17 17:30
焦耳积分I2t特性，本来就是以绝热假设为前提提出的一个概念。时间长了，散热条件影响因子大增，不管用了。 ...
假设线路很长，短路电流可能小于正常运行电流，断路器不跳闸，此时I2t无法计算，也无意义。这个公式就更不成立了对吗？ hbsjzsjy 发表于 2024-12-17 17:56
假设线路很长，短路电流可能小于正常运行电流，断路器不跳闸，此时I2t无法计算，也无意义。这个公式就更 ...
配电系统里，“短路电流可能小于正常运行电流”？
真想不出来什么情况下才会出现这种情况。
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