单相双电源转换开关

wangguichao66

dqaq 发表于 2023-9-29 16:10
这是另一个问题，即避免操作过程中短暂的断中问题，与开关N极接触不良导致的断中不是一回事。按王老等业 ...

您说的这些理论上存在的可能性，这个我也认可。
不过实际运行中发生的断零事件有多少是因为断路器N极接触不良导致的，
没有看到权威统计分析数据，
真的有点怀疑N极接触不良导致是不是属于极小概率事件。
因为实际运行中为单相负荷供电的上级3P/4P断路器寿命周期内操作次数感觉很有限，
像住宅这种除了检修和故障跳闸没人会去动它，
像学校这种建筑大不了每次放假关一下总闸，寿命周期内也没有多少次，操作次数远小于设计寿命次数。

dqaq

wangguichao66 发表于 2023-9-30 09:08
您说的这些理论上存在的可能性，这个我也认可。
不过实际运行中发生的断零事件有多少是因为断路器N极接 ...

       我也怀疑这种说法，只是一种逻辑不悖的推测，但并没有实际数据的支持。但一想起业界很大一批设计人员对隔离电器强烈的抵触情绪（若干年前审图是基本每个项目都会碰到），以及车轱辘式的辩论赛，不想说。
       当低断兼做隔离电器时，必须同时遵守低断和隔离电器两者的选择要求。比如，低规3.1.15条，明确规定TT系统负荷侧有N导体时，隔离电器必须能断N。这时如果用低断兼作隔离，必须选用有开闭N极的型式。其实对TN-S系统，除了电源级配电外，中间级和终端级配电，低断如果兼作隔离，也应如此。

wangguichao66

dqaq 发表于 2023-9-30 09:34
我也怀疑这种说法，只是一种逻辑不悖的推测，但并没有实际数据的支持。但一想起业界很大一批设计 ...

谢谢回复！顺祝节日快乐！
业界好多类似争议，根本原因就是缺乏基础数据支撑，
就像抛开剂量谈毒性一样。
有能力的研究所之类和有资源的专家们没人愿意干这种脏活累活，
可怜的设计圈只能就此打打嘴仗、争论不休。